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X射線光電子能譜分析

2020-11-09 關(guān)鍵詞:X射線光電子能譜分析檢測,X射線光電子能譜分析 相關(guān):
X射線光電子能譜分析

X射線光電子能譜分析摘要:X射線光電子能譜分析檢測,,找哪個檢測機構(gòu)辦理比較好?中析研究所檢測機構(gòu),,可為您提供各種X射線光電子能譜分析檢測服務。中析研究所貫徹堅持做一個管理,、技術(shù),、效率,、服務周全,,社會尊重、客戶

參考周期:常規(guī)試驗7-15工作日,,加急試驗5個工作日。

注意:因業(yè)務調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個人除外),。

  X射線光電子能譜分析檢測,找哪個檢測機構(gòu)辦理比較好?中析檢測機構(gòu),,可為您提供各種X射線光電子能譜分析檢測服務,。中析研究所貫徹堅持做一個管理、技術(shù),、效率,、服務周全,社會尊重,、客戶信賴的研究型檢測分析機構(gòu),,長期致力于推動分析檢測產(chǎn)業(yè)的長足發(fā)展,竭誠歡迎各界同仁前來洽談,、合作!

  檢測周期:7-15個工作日出具X射線光電子能譜分析檢測報告,。

  檢測費用:初檢,根據(jù)客戶檢測需求以及實驗復雜程度進行報價,。

X射線光電子能譜分析檢測項目

  樣品成分表面分析,,價態(tài)分析,多層膜深度剖析等等;

X射線光電子能譜分析檢測標準(部分)

  GB/T 21006-2007    表面化學分析 X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀 強度標的線性

  GB/T 22571-2017    表面化學分析 X射線光電子能譜儀 能量標尺的校準

  GB/T 25184-2010    X射線光電子能譜儀檢定方法

  GB/T 25185-2010    表面化學分析 X射線光電子能譜 荷電控制和荷電校正方法的報告

  GB/T 25188-2010    硅晶片表面超薄氧化硅層厚度的測量 X射線光電子能譜法

  GB/T 28632-2012    表面化學分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 橫向分辨率測定

  GB/T 28633-2012    表面化學分析 X射線光電子能譜 強度標的重復性和一致性

X射線光電子能譜分析檢測流程

  1,、寄樣:和工程師聯(lián)系咨詢 并郵寄樣品(支持上門取樣)

  2,、初檢:對樣品進行初檢,結(jié)合客戶需求確定具體檢測項目

  3,、報價:根據(jù)檢測的復雜程度進行報價

  4,、雙方確定--簽訂保密協(xié)議,開始實驗

  5,、完成實驗

  6,、寄送報告:有完善的售后服務,可隨時咨詢

  以上是關(guān)于X射線光電子能譜分析檢測的相關(guān)介紹,,如有其他檢測需求可以咨詢實驗室工程師幫您解答(試驗/檢測周期以工程師為準),。

中析儀器 資質(zhì)

中析X射線光電子能譜分析 - 由于篇幅有限,僅展示部分項目,,如需咨詢詳細檢測項目,,請咨詢在線工程師

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